方管的表面缺陷方法是怎樣的

　　方(fang)管表面缺陷(xian)(xian)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)法(fa)，主要有以(yi)下五種(zhong)：一電渦流(liu)(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce).電渦流(liu)(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)有多(duo)種(zhong)形式，常用的(de)(de)有常規(gui)渦流(liu)(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)、遠(yuan)場渦流(liu)(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)、多(duo)頻渦流(liu)(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)和脈(mo)沖渦流(liu)(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)等，利用電渦流(liu)(liu)傳感(gan)器對(dui)金(jin)屬進行(xing)感(gan)應(ying)，方(fang)管表面不同缺陷(xian)(xian)類(lei)型(xing)和形狀(zhuang)將(jiang)產生不同類(lei)型(xing)的(de)(de)信號。其優點(dian)是檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)精度(du)高(gao)、探測(ce)(ce)(ce)(ce)靈(ling)敏度(du)高(gao)，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)速度(du)快，能檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)待(dai)(dai)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)管材的(de)(de)表面及亞表面，且不受待(dai)(dai)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)管表面油污等雜質的(de)(de)影響。缺點(dian)是易將(jiang)非缺陷(xian)(xian)結構判定為缺陷(xian)(xian)，誤檢(jian)(jian)率較高(gao)，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)分辨(bian)率不容(rong)易調整

　　利用超聲(sheng)(sheng)波進入物(wu)體遇到(dao)缺(que)陷時，一(yi)部分聲(sheng)(sheng)波會產生(sheng)反(fan)射(she)，發射(she)和接(jie)收器可(ke)對(dui)反(fan)射(she)波進行分析，就能(neng)異常(chang)精確地測出缺(que)陷來。超聲(sheng)(sheng)波檢(jian)測常(chang)用于鍛件檢(jian)測，檢(jian)測探傷靈敏度高(gao)，但(dan)是不易檢(jian)查形狀復雜的管(guan)材，要(yao)求被(bei)檢(jian)查的方管(guan)表面(mian)有(you)一(yi)定(ding)光潔度，并需有(you)耦合劑充填滿探頭和被(bei)檢(jian)查表面(mian)之間(jian)的空隙(xi)。

　　三磁粉法檢測

　　磁粉法(fa)檢測的(de)原理是在(zai)方(fang)管材料中(zhong)實(shi)現磁場，根據缺陷處(chu)的(de)漏磁場與磁粉的(de)相互作用，當表(biao)面和近(jin)表(biao)面有不連續或(huo)缺陷時，則在(zai)不連續處(chu)或(huo)缺陷處(chu)磁力線發生(sheng)局部畸變產生(sheng)磁極。其優(you)點是設備(bei)投資(zi)少，可靠性(xing)高，具有直觀性(xing)。缺點是操作成本高，不能(neng)對缺陷準確分類(lei)，檢測速度(du)較低。

　　四紅外線檢測

　　通過高頻感(gan)應(ying)線圈，在(zai)方管表面產(chan)生感(gan)應(ying)電流，感(gan)應(ying)電流會導致缺(que)陷區域消耗(hao)更多電能，引(yin)起(qi)局(ju)部溫度升高，通過紅外線檢(jian)(jian)測(ce)局(ju)部溫度，從而確定缺(que)陷深(shen)度。紅外線檢(jian)(jian)測(ce)一般用于平直表面的缺(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)，不(bu)適合檢(jian)(jian)測(ce)表面不(bu)平整金(jin)屬。